| 摘要 |
L'invention concerne un procédé pour tester un circuit intégré comprenant des points de mémorisation (140) et une chaîne de Boundary Scan (120), dans lequel on écrit et/ ou on lit sur les points de mémorisation (140) par l'intermédiaire d'un chemin d'accès (150) aux points de mémorisation (140) depuis une borne extérieure (108) du circuit, caractérisé en ce que l'on active la chaîne de Boundary Scan (120) pour imposer et/ ou observer des niveaux logiques sur les entrées/ sorties (120) du circuit intégré. |
