| 主权项 |
1.一种小尺寸,尤其是时计式之装置,包含一第一轮 及一第二轮,二轮以同轴,可旋转之方 式安装于同一几何旋转轴线上,并分别包含一第一 板及一第二板垂直于该几何旋转轴线,此 装置另含有装置,用以检测第一轮之一第一基准几 何半轴线及第二轮之第二基准几何半轴线 之角度位置,其中,用以检测第一及第二半轴线之 角度位置之装置由单个同一磁或电容性感 测器构成,具有一元件用以检测作用材料之存在于 该元件之上方或下方,第一板含有对感测 器不作用之至少一区,第一及第二板至少部份由对 感测器之有作用之材料制成,感测器与第 一轮相对安排,俾其感测元件至少部份在第一轮之 至少一决定之角度位置中之第一不作用区 之上方或下方。2.如申请专利范围第1项所述之装 置,其中,感测器反应作用材料之存在于检测元件 之上方 或下方中之变化,变化感测器之至少一参数或变数 ,所提供之一量度信号从而取决于此,设 置具有幅度之该第一不作用区,俾检测元件至少大 部份面对在该决定之角度位置中之该第一 不作用区。3.如申请专利范围第1项所述之装置,其 中,第一不作用区由设置于第一板中之一第一开口 构成。4.如申请专利范围第3项所述之装置,其中, 第一及第二板由对感测器之有用之材料构成, 第二板具有至少一第二开口,检测元件安排使其至 少部份在第二轮之至少一决定之角度位置 中之该第二开口之上方或下方。5.如申请专利范 围第4项所述之装置,其中,第一及第二半轴线分别 由一半径构成,此自该 几何旋转轴线开始,并大致分别通过第一及第二开 口之几何中心,或分别由第一及第二开口 之一径向边缘构成,或分别与沿径向分别延伸于第 一及第二板之二不作用区间之第一及第二 板之作用材料所制之部份之中央线相同。6.如申 请专利范围第1项所述之装置,其中,感测器包含一 支持座,其表面上安排该检测元 件,支座安排面对第一板,第二板位于与支持座相 对之第一板之另一侧,当第一轮在该决定 之角度位置中时,感测器安排用以检测至少部份构 成第二板之作用材料之存在于检测元件上 方。7.如申请专利范围第1项所述之装置,其中,感 测器包含一支持座,其表面安排该测元件, 支持座安排于第一及第二板之间,检测元件位置面 对第一板。8.如申请专利范围第7项所述之装置,另 包含一第三轮,此与第一及第二轮同轴,且包含一 第三板垂直于几何旋转轴线,第三轮界定一第三基 准几何半轴线,其角度位置可由该磁或电 容性感测器检测,第三板位于与感测器之支持座相 对之第一板之另一侧,且至少部份由对感 测器有作用之材料制成,当第一轮在该决定之角度 位置上时,感测器安排用以检测至少部份 构成该第三板之作用材料之存在于检测元件之上 方或下方。9.如申请专利范围第8项所述之装置,其 中,第二板包含对感测器不作用之至少一第二区, 安排使检测元件至少大部份在第二轮之至少一决 定之角度位置中之第二不作用区之上方下方 。10.如申请专利范围第8项所述之装置,其中,第三 板由作用材料构成,并具有一第三开口, 检测元件安排使其至少部份在第三轮之至少一决 定之角度位置中之该第三开口之上方或下方 ,第三半轴线由一半径构成,该半径自该几何旋转 轴线开始,并大致通第三开口之几何中心 ,或由第三开口之一径向边缘界定,或与第三板之 作用材料所构成之一部份之中央线相同, 沿径向延伸于第三板之二不作用区之间。11.一种 用以由单个同一磁或电容性感测器检测N个同轴轮 之角度位置之方法,N大于1,此等 N个轮分别包含N个板,各具有对感测器不作用之至 少一区,感测器包含至少部份构成N个板 之每一个之作用材料之一检测元件,检测元件及每 一不作用区安排在具有不作用区之轮之至 少一决定之角度位置中相互重叠,N个板各界定一 基准几何半轴线,此可由感测器检测,该 方法包括以下连续步骤,其中,N个板以自位置最接 近检测元件之板至距检测元件最远之板 依上升顺序编号: A)决定1号轮之半轴线之角度位置; B)移动或留下1号轮之不作用区与检测元件重叠,或 等待直至此不作用区及检测元件相互重 叠为止; C)对2至(N-1)号轮连续执行步骤A)及B),如所需; D)决定轮N之半轴线之角度位置。12.如申请专利范 围第11项所述之方法,另包括以下连续步骤: E)在N=2之情形,移动或留下2号轮之不作用区,或在N 大于2之情形,移动或留下2至N号轮 之不作用区与检测元件重叠,或等待直至不作用区 及检测元件相互重叠为止; F)检查1号轮之半轴线之角度位置,且如该角度位置 并不符合在步骤A期间中所量度之角度位 置之情形,保持此检查结果之角度位置; G)在已移动或留下其他轮之不作用区与检测元件 重叠,或已等待不作用区及检测元件相互重 叠后,如需要,对2至(N-1)号轮依上升顺序执行检查 该轮所属之半轴线之角度位置,且在 此并不符合在步骤C)之期间中所量度之角度位置 之情形,保持对2至(N-1)号轮检查结果之 角度位置。13.如申请专利范围第12项所述之方法, 另括一最后步骤: H)在N=2之情形,在已移动或留下不作用区,或在N大 于2之情形,在已程动或留下1至(N- 1)号不作用区与检测元件重叠后,或已等待不作用 区及检测元件相互重叠后,检查N号轮有 关之半轴线之角度位置,如检查1号轮或1至(N-1)号 轮之角度位置之步骤显示在步骤A)至C) 期间中有至少一错误检测,则宜执行此步骤。图式 简单说明: 第一图为与电感性感测器关连之二同轴轮之概要 平面图; 第二图为沿第一图之线II-II上所取之断面图,未显 示指针,但显示第一图装置之其他 元件; 第三图概要显示一量度曲线,能使用第一图及第二 图之装置所提供之量度信号获得,此 曲线可决定二同轴轮之一或另一之基准角度位置; 第四图以平面图概要显示本发明之一第二实施例; 第五图为沿第四图之线V-V上所取之与第二图相似 之断面图; 第六图概要显示一曲线,使用第四图及第五图装置 之感测器所提供之量度信号获得,可 决定此装置之二同轴轮之一或另一之基准角度位 置; 第七图为本发明装置之一第三实施之与第五图相 似之断面图; 第八图为本发明装置之一第四实施例之与第五图 相之断面图; 第九图概要显示前图所示之同轴轮之另一实施例; 及 第十图概要显示一曲线,使用在第九图所示轮之一 完全或部份及一开口间之转变期间之 量度信号所获得。 |
