| 主权项 |
一种与频率相关(相依)之振幅衰减探测方法,其是 利用宽频的超音波探头对材料进行非 破坏性检测,并加以正规化(normalize)之探测方法,以 克服接触型探头由于接触状况而产 生对振幅之影响,并可消除由不同系统设置(system setting)对振幅(能量)输入/输出的影 响, 以本发明之与频率相关(相依)之振幅衰减探测方 法获得关于相对振幅衰减的函数为k(</sub>bar{</ sub>): /vspace*{3/ny} /ait{其中:} /ait{Y<sub>R</sub></sub>bar{</sub>):探头直接超音波讯 号振幅,} /ait{</sub>*</sub>G最小的衰减频率,} /ait{y<sub>R</sub></sub>bar{</sub>)</sub></sub>荌T号调整 器的计算振幅。} /tt 第一图:系本发明之进行探头频谱与振幅校正的流 程配置示意图。 第二图:系本发明之在实验中进行振幅衰减探测的 流程配置示意图。 第三图:系以不同的系统设置及三种不同的接触状 况来检验本发明之方法所得之结果示 意图。 第四图:系本发明对3/8</sub></sub>D均匀介质尺寸( grain size)(或骨材尺寸(aggregate size)) 正常与损伤试样进行测试所得之振幅衰减函数比 较图。 第五图:系本发明对3/4</sub></sub>D均匀介质尺寸( grain size)(或骨材尺寸(aggregate size)) 正常与损伤试样进行测试所得之振幅衰减函数比 较图。 第六图:系本发明对1</sub></sub>D均匀介质尺寸(grain size)(或骨材尺寸(aggregate size))正 常与损伤试样进行测试所得之振幅衰减函数比较 图。 第七图:系第二组试样的P波波速测试结果比较图 。 第八图:系本发明对不同程度损伤试样进行测试所 得之振幅衰减函数比较图。 |
