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发明名称 TWO-MODE SURFACE DEFECT TESTING SYSTEM
摘要
申请公布号 EP0932825(A4) 申请公布日期 2000.07.19
申请号 EP19970911694 申请日期 1997.10.15
申请人 ATLAS ELECTRIC DEVICES CO. 发明人 LEE, FREDERICK, H.
分类号 G01N21/57;(IPC1-7):G01N21/88 主分类号 G01N21/57
代理机构 代理人
主权项
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