发明名称 Verfahren und Anordnung zur Belichtung eines Substrates
摘要 Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Belichtung eines mit einem Resistsystem (2) versehenen Substrates (1), wobei eine leitende Verbindung zwischen einem Massepotential und dem Substrat (1) und/oder mindestens einer der Schichten S¶1¶ bis S¶n¶ des Resistsystems (2) hergestellt wird. Die Erfindung bezieht sich weiterhin auf eine Anordnung zur Durchführung dieses Verfahrens. DOLLAR A Erfindungsgemäß wird in einem einzigen Verfahrensschritt erreicht, daß durch Federelemente E¶1¶ bis E¶4¶ eine Kontaktspitze K¶1¶ bis zur Schicht S¶1¶, eine Kontaktspitze K¶2¶ durch die Schicht S¶1¶ hindurch bis Schicht S¶2¶, eine Kontaktspitze K¶3¶ durch die Schichten S¶1¶ und S¶2¶ hindurch bis zur Schicht S¶3¶ usw. vorgeschoben werden. Die elektrischen Aufladungen aus der Schicht S¶1¶ werden über die Kontaktspitze K¶1¶ zum Massepotential abgeleitet, ebenso die Aufladungen aus der Schicht S¶2¶ über die Kontaktspitze K¶2¶ usw. und/oder aus dem Substrat (1) über eine Kontaktspitze K¶4¶.
申请公布号 DE19853093(A1) 申请公布日期 2000.07.13
申请号 DE19981053093 申请日期 1998.11.18
申请人 LEICA MICROSYSTEMS LITHOGRAPHY GMBH 发明人 HAHMANN, PETER;BEYER, DIRK;KRAUHS, DOROTHEE;ELSTER, THOMAS
分类号 G03F7/20;H01J37/02;H01J37/20;H01J37/305;H01J37/317;H01L21/027;(IPC1-7):G03F7/20 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人
主权项
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