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LA INVENCION ESTA RELACIONADA CON UN DISPOSITIVO DE CIRCUITO CON UN NUMERO PREDETERMINADO DE LINEAS EN GRUPO (WLO, ..., WLM, BLO, ..., BLM) CONFIGURADAS PARALELA Y REGULARMENTE EN UN SUBSTRATO SEMICONDUCTOR (26), EN LAS QUE SE CONECTAN UN GRAN NUMERO DE CIRCUITOS ELEMENTALES ELECTRONICOS (7) CONFIGURADOS EN EL SUBSTRATO SEMICONDUCTOR (26) Y, FUNDAMENTALMENTE, DEL MISMO TIPO, ESTANDO PREVISTO UN CIRCUITO DE PRUEBA PARA LA COMPROBACION DEL FUNCIONAMIENTO ELECTRONICO DE LOS CIRCUITOS ELEMENTALES (7) Y/O DE LAS LINEAS EN GRUPO (WLO, ..., WLM, BLO, ..., BLM) QUE TAMBIEN SE REALIZA INTEGRADO EN EL SUBSTRATO SEMICONDUCTOR (26) DE LA DISPOSICION DE CIRCUITO Y QUE PRESENTA UN DISPOSITIVO DE CONEXION (30) ASIGNADO A LAS LINEAS EN GRUPO (WLO, ..., WLM, BLO, ..., BLM), POR MEDIO DEL CUAL ES POSIBLE SOLICITAR, AL MENOS UNA LINEA EN GRUPO PREDETERMINADA (WLN, BLN) CON UNA PRIMERA SEÑAL DE PRUEBA Y OTRA LINEA EN GRUPO (WLN'', BLN'', N''=N-1, N''=N+1) DISPUESTA DIRECTAMENTE ADYACENTE FRENTE A LA LINEA EN GRUPO(WLN, BLN) PREDETERMINADA CON UNA SEGUNDA SEÑAL DE PRUEBA QUE, FRENTE A LA PRIMERA SEÑAL DE PRUEBA, PRESENTA UN NIVEL DE PRUEBA DIFERENTE, Y ESTANDO PREVISTO UN DISPOSITIVO DE DETECCION (31) ASIGNADO A LAS LINEAS EN GRUPO (WLO, ..., WLM, BLO, ..., BLM) QUE REGISTRA UNA SEÑAL DE SALIDA DERIVADA DE LAS LINEAS EN GRUPO (WLN, BLN O WLN'', BLN'') SOMETIDAS A LA PRIMERA O LA SEGUNDA SEÑAL DE PRUEBA. |
