发明名称 Copolymer for photoresist
摘要 A copolymer of maleimide derivative and acrylic acid, represented by Formula I, is of high etch resistance and thermal resistance and can be used for photoresist in submicrolithography.
申请公布号 US6063896(A) 申请公布日期 2000.05.16
申请号 US19970881122 申请日期 1997.06.24
申请人 HYUNDAI ELECTRONICS INDUSTRIES CO., LTD. 发明人 JUNG, JAE CHANG;BOK, CHEOL KYU
分类号 G03F7/033;C08F220/12;C08F222/40;G03F7/039;H01L21/027;(IPC1-7):C08G73/10;G03C1/495 主分类号 G03F7/033
代理机构 代理人
主权项
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