用于测试集成电路的方法和装置

摘要

本发明涉及测试集成电路的一种方法，所述电路包括测试电路卡和／或在集成电路（１）安装到电路卡后连接集成电路的其它电路的测试装置（２），控制测试装置的输入（７，１２，１３），以及测试集成电路（１）内部操作的测试结构。为了保持电路输入端口数量小，要限定测试装置（２）的测试方式，在此测试方式中测试装置的输入（７）之一连到用于集成电路（１）内部操作的测试结构，并且当测试集成电路（１）内部操作时，测试装置（２）设为所述测试方式，在此集成电路的内部测试结构可由测试装置（２）的输入（７）控制。本发明还涉及一个集成电路，其中采用依照本发明的方法。

主权项

1.测试集成电路的一个方法，所述电路包括：测试装置(2)，用于测试电路卡和/或在集成电路(1)被安装在电路卡上后连接到该集成电路的其它电路，用于控制测试装置的输入(7，12，13)，以及用于测试集成电路(1)内部操作的测试结构，其特征在于所述方法包括：为测试装置定义测试方式，在测试方式中测试装置的一个输入(7)连到用于集成电路(1)内部操作的测试结构，和当集成电路(1)的内部操作被测试时，测试装置(2)设为所述方式，在此集成电路的内部测试结构可以由测试装置(2)的输入(7)来控制。