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发明名称
Procédé d'examen micrographique non destructif par reproduction sur une pièce en alliage plomb-étain
摘要
申请公布号
FR1467503(A)
申请公布日期
1967.01.27
申请号
FR19660048621
申请日期
1966.02.07
申请人
ITALSIDER S. P. A.
发明人
分类号
G01B1/00;G01B5/28;G01N21/88
主分类号
G01B1/00
代理机构
代理人
主权项
地址
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