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发明名称 LATCH AND MEMORY TEST CIRCUIT
摘要
申请公布号 KR100249780(B1) 申请公布日期 2000.03.15
申请号 KR19970071610 申请日期 1997.12.22
申请人 KOREA ELECTRONICS & TELECOMMUNICATIONS RESEARCH INSTITUTE 发明人 KIM, MYUNG-HWAN;KWAK, MYUNG-SIN
分类号 G11C29/00;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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