电子元件的测试方法和电子元件测试装置

摘要

本发明是一种将测试信号输入到要测试的电子元件里,根据其响应输出信号,判断电子元件好坏的电子元件的测试方法,在第一测试里,对多个电子元件组成的电子元件群的各电子元件A1、A2,输入共同的测试信号,根据其响应信号,判断该测试的电子元件群全体好坏。在第二测试(再检测)里,对于由第一测试工序判断为不合格的各测试电子元件,分别输入互相独立的测试信号,根据其响应信号,判断该测试的单个电子元件A1、A2的好坏。

主权项

1.一种将测试信号输入到要测试的电子元件里，根据其响应输出信号，判断所述电子元件好坏的电子元件的测试方法，该电子元件的测试方法具有：对于由多个电子元件组成的电子元件群的所述各个电子元件，输入共同的测试信号，根据其响应信号，判断供给该测试的所述电子元件群全体好坏的第一测试工序；以及对于用所述第一测试工序判断为不合格的电子元件群的各个测试电子元件，分别输入互相独立的测试信号，根据其响应信号，判断供给该测试的所述每个电子元件好坏的第二测试工序。