发明名称 | IC试验装置 | ||
摘要 | 提供施加在被试验IC的接触部分的推压力均一性优良的IC试验装置。这是一种把被试验IC的输入输出端子推压到试验头的接触引脚51上进行试验的IC试验装置,具备被设置为对接触引脚51可以进行靠近离开的推进器基座34,设在推进器基座上与被试验IC接触后对之进行推压的推进器块31,对推进器块在被试验IC的推压方向上提供弹力的弹簧36。 | ||
申请公布号 | CN1241725A | 申请公布日期 | 2000.01.19 |
申请号 | CN99108832.8 | 申请日期 | 1999.06.25 |
申请人 | 株式会社爱德万测试 | 发明人 | 齐藤登 |
分类号 | G01R31/26 | 主分类号 | G01R31/26 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 王永刚 |
主权项 | 1、一种把被试验IC的输入输出端子推压到试验头的接触部分上进行试验的IC试验装置,其特征是具备有:设置为对上述接触部分可以进行靠近离开移动的推进器基座;设于上述推进器基座上、在从上述接触部分的相反面接触到上述被试验IC后对之进行推压的推进器块;对上述推进器块在上述被试验IC的推压方向上提供弹力的弹性装置。 | ||
地址 | 日本东京 |