发明名称 Verfahren und Vorrichtung zur Profilbestimmung einer Materialoberfläche
摘要 Gegenstand der Erfindung sind ein Verfahren zum dynamischen Scannen zum Messen von Punkten auf Materialoberflächen nach dem Autofokusprinzip sowie ein Koordinatenmessgerät. In einem relativ zur Materialoberfläche beweglich angeordneten Tastkopf (10) befindet sich eine Optik (16), die einen Abbildungsstrahlengang mit zwei unterschiedlich langen optischen Wegen aufweist, an deren Enden jeweils Kontrastwerte gemessen werden, wobei der Tastkopf (10) so in seinem Abstand gegenüber der Materialoberfläche (14) eingestellt wird, dass die Konstrastwerte gleich sind. Aus der Position des Tastkopfs (10) gegenüber der Materialoberfläche (14) wird deren Profil bestimmt.
申请公布号 DE19816271(C1) 申请公布日期 2000.01.13
申请号 DE19981016271 申请日期 1998.04.11
申请人 WERTH MESSTECHNIK GMBH 发明人
分类号 G01B11/00;G01B11/03;G01B11/24;G01B11/245;G01B11/30;G01N21/84;(IPC1-7):G01B11/14;G05D3/20 主分类号 G01B11/00
代理机构 代理人
主权项
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