发明名称 多重金属内连线中未着陆型金属介层窗的制造方法
摘要 一种多重金属内连线中未着陆型金属介层窗的制造方法,其特点在于利用嵌金法形成一金属导线层,可简化制程,并可避免知制程需先对金属层进行蚀刻与后续金属导线之间内介电层不易填入的问题。且在第一内介电层表面形成一蚀刻终止层,如此可使在形成金属介层窗时不会产生过度蚀刻的现象,可避免元件产生短路。由于结合嵌金法形成金属导线层,可使蚀刻终止层轻易的形成在第一介电层表面,不会形成过度蚀刻之金属介层窗。
申请公布号 TW378389 申请公布日期 2000.01.01
申请号 TW086115352 申请日期 1997.10.18
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 黄益民;游萃蓉
分类号 H01L21/768 主分类号 H01L21/768
代理机构 代理人 詹铭文 台北巿罗斯福路二段一○○号七楼之一
主权项 1.一种多重内连线中未着陆型金属介层窗的制造方法,包括下列步骤:(a)提供一基底,在该基底上已形成一金氧半元件;(b)在该基底表面依序形成一第一内介电层与一蚀刻终止层;(c)定义该第一内介电层与该蚀刻终止层之图案,形成一金属线沟渠;(d)沈积一第一金属层,并填满该金属线沟渠;(e)对该第一金属层进行化学机械研磨法,去除残留在该蚀刻终止层上多余之该第一金属层,形成一第一金属导线层;(f)在该蚀刻终止层与该第一金属导线层表面形成一第二内介电层;以及(g)定义该第二内介电层之图案,并以该蚀刻终止层为终点,形成一金属介层窗,并露出该第一金属导线层。2.如申请专利范围第1项所述之制造方法,其中该步骤(b)中之该第一内介电层系为二氧化矽层。3.如申请专利范围第1项所述之制造方法,其中该步骤(b)中之该蚀刻终止层系为氮化矽层。4.如申请专利范围第1项所述之制造方法,其中该步骤(b)中之该蚀刻终止层系为含矽量高之氧化矽层。5.如申请专利范围第1项所述之制造方法,其中该步骤(d)中之该第一金属层为铝金属层。6.如申请专利范围第1项所述之制造方法,其中该步骤(f)中之该第一内介电层系为二氧化矽层。7.如申请专利范围第1项所述之制造方法,其中在步骤(g)之后更包括:(h)在该金属介层窗中形成一金属插塞;(i)在该第二内介电层与该金属插塞表面形成一第二金属层;以及(j)定义该第二金属层之图案,形成一第二金属导线层。9.如申请专利范围第1项所述之制造方法,其中该步骤(h)中之该金属插塞系为钨插塞。10.如申请专利范围第1项所述之制造方法,其中该步骤(i)中之该第二金属层系为铝金属层。图式简单说明:第一图A-第一图D是习知一种多重金属内连线中未着陆型介层窗的制造剖面流程图;第二图A-第二图B是依照习知多重金属内连线中未着陆型介层窗制造方法所产生介层窗过度蚀刻的剖面示意图;以及第三图A-第三图E是依照本发明一较佳实施例,一种多重金属内连线中未着陆型介层窗的制造剖面流程图。
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