发明名称 SEMICONDUCTOR DEVICE IN WHICH HOT CARRIER RESISTANCE CAN BE IMPROVED AND SILICIDE LAYER CAN BE FORMED WITH HIGH RELIABILITY AND METHOD OF MANUFACTURING IT
摘要 <p>반도체 기판을 제공하는 단계, 제 2 게이트 전극을 형성하는 단계, 제 2 소오스/드레인 영역을 형성하는 단계, 제 2 측벽 절연막을 형성하는 단계, 제 1 게이트 전극을 형성하는 단계, 제 1 소오스/드레인 영역을 형성하는 단계 및 제 1 측벽 절연막을 형성하는 단계를 포함한다. 반도체 기판은 제 1 및 제 2 반도체 소자 형성영역을 갖는다. 제 1 반도체 소자 형성영역이 마스크된 상태로, 제 2 반도체 소자 형성영역내에 제 2 반도체 소자의 제 2 게이트 전극이 형성된다. 제 1 반도체 소자 형성영역이 마스크된 상태로, 제 2 반도체 소자 형성영역내 제 2 반도체 소자의 제 2 소오스/드레인 영역이 형성된다. 제 1 반도체 소자 형성영역이 마스크된 상태로, 제 2 게이트 전극의 측면상에 제 2 측벽 절연막이 형성된다. 제 2 반도체 소자 형성영역이 마스크된 상태로, 제 1 반도체 소자 형성영역내에 제 1 반도체 소자의 제 1 게이트 전극이 형성된다. 제 2 반도체 소자 형성영역이 마스크된 상태로, 제 1 반도체 소자 형성영역내에 제 1 반도체 소자의 제 1 소오스/드레인 영역이 형성된다. 제 1 게이트 전극의 측면상에 제 1 측벽 절연막이 형성된다.</p>
申请公布号 KR19990088569(A) 申请公布日期 1999.12.27
申请号 KR19990019058 申请日期 1999.05.26
申请人 null, null 发明人 가사이나오끼
分类号 H01L27/088;H01L21/336;H01L21/82;H01L21/8234;H01L21/8242;H01L27/04;H01L27/108;H01L29/78 主分类号 H01L27/088
代理机构 代理人
主权项
地址