用于检查多个物体、材料层或类似物构成的组件的装置

摘要

本发明涉及用于检查多个部分、层或类似物构成的物体如卷烟组(12)、材料带等的装置。材料带或类似物移动,从物体反射的光由光电子检查构件,特别是与运动方向成横向的和/或与物体纵向长度成横向的CCD线性阵列芯片(10)接受。物体的轮廓由CCD线性阵列芯片(10)借助不同光线强度的区域而检测到并在评价装置中被处理。

主权项

1．用于检查多个(单独)部分，特别是多个单独物体、材料层或类似物构成的组件，例如，卷烟组(12)、卷筒(42)、材料带(58)的装置，在一个检查装置(23)中使用具有一系列光敏检查元件的检查构件，以及使用一个评价装置来检查其完整和/或正确的结构，其特征在于：所述检查构件是一个CCD线性阵列芯片(10)，它具有作为检查元件的多个光敏件，所述CCD线性阵列芯片的取向与被检查的物体或材料层成横向，从而使被检查的物体的轮廓可以在反射光的基础上由CCD线性阵列芯片(10)检测。