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发明名称 ASSEMBLY FOR TESTING SEMICONDUCTOR PACKAGE
摘要
申请公布号 KR100226572(B1) 申请公布日期 1999.10.15
申请号 KR19970004679 申请日期 1997.02.17
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD. 发明人 CHO, JEA KUN
分类号 H01L23/00;(IPC1-7):H01L23/00 主分类号 H01L23/00
代理机构 代理人
主权项
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