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发明名称
APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING SURFACE CURVATURE
摘要
申请公布号
KR100222921(B1)
申请公布日期
1999.10.01
申请号
KR19970042315
申请日期
1997.08.28
申请人
DAEWOO ELECTRONICS CO.,LTD
发明人
HWANG, YOO-CHOL
分类号
G01B11/30;(IPC1-7):G01B11/30
主分类号
G01B11/30
代理机构
代理人
主权项
地址
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