发明名称 修整半导体电容之装置
摘要 本创作提出一种修整半导体电容之装置,其系于半导体基板上形成主体电容及数个单位修整电容,藉由一组利用最少修整垫与可节省电能熔丝器之连接/烧断组态及藉由一组可获致最少修整次数之编码器决定该等单位修整电容与该主体电容之电连接状态,进而获得最终组成之电容者;其中,最终电容标准值系被定在修整区间之中间附近,俾使该半导体电容可以被施予双向修整者。
申请公布号 TW369211 申请公布日期 1999.09.01
申请号 TW087202644 申请日期 1998.02.24
申请人 华隆电子股份有限公司 发明人 吴高彬
分类号 H01L21/70 主分类号 H01L21/70
代理机构 代理人 黄重智 新竹巿四维路一三○号十三楼之七
主权项 1.一种修整半导体电容之装置,系为提供半导体电容于制造完成后可再调整其最终电容値之装置,其包括:电容器,由主体电容及许多单位修整电容组成,该等单位修整电容可分别与该主体电容连接或隔离;熔丝器,根据其内部熔丝之连接/烧断组态而决定输出一组修整信号;以及编码器,将上述修整信号转换为一组控制信号以决定上述主体电容与单位修整电容之连接状态者;其中,最终电容标准値系被定在修整区间之中间附近,俾使该半导体电容可以被施予双向修整者。2.如申请专利范围第1项所述之装置,其中该熔丝器受一致能信号控制,能够促使其在非致能状态下节省耗电能者。3.如申请专利范围第2项所述之装置,其中该致能信号系控制一金氧半电晶体与一逻辑闸阻隔修整垫,使其节省耗电能者。4.如申请专利范围第1项所述之装置,其中该熔丝器每产生一个修整讯号仅需采用一个修整垫者。5.如申请专利范围第1项所述之装置,其中该主体电容为该单位修整电容之整数倍者。6.如申请专利范围第1项所述之装置,其中该编码器系当修整(增/减)单位修整电容愈少时,可使所须烧断之熔丝数目愈少者。图式简单说明:第一图系用来修整电容的装置。第二图系电容于半导体基板上之布局示意图。第三图(a)~第三图(e)系熔丝器之内部构造。第四图(a)~第四图(b)系表示所需电容之标准値被定在修整区间之中间附近。
地址 新竹科学工业园区展业一路九号七楼之一