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发明名称
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
摘要
申请公布号
JPH11237454(A)
申请公布日期
1999.08.31
申请号
JP19980038717
申请日期
1998.02.20
申请人
ADVANTEST CORP
发明人
MIURA TAKEO
分类号
G01R31/319;G01R19/165;G01R31/317;G01R31/3193;(IPC1-7):G01R31/319
主分类号
G01R31/319
代理机构
代理人
主权项
地址
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