| 发明名称 |
METHOD FOR JUDGING DETERIORATION OF SECONDARY BATTERY AND ITS CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH11224696(A) |
申请公布日期 |
1999.08.17 |
| 申请号 |
JP19980038097 |
申请日期 |
1998.02.04 |
| 申请人 |
NIPPON TELEGR & TELEPH CORP <NTT> |
发明人 |
TAKENO KAZUHIKO;YAMAZAKI MIKIO;SUZUKI TORU;KUWATA YUTAKA |
| 分类号 |
G01R31/36;H01M10/48;H02J7/00;(IPC1-7):H01M10/48 |
主分类号 |
G01R31/36 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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