| 发明名称 |
DEVICE AND METHOD FOR MEASURING HIGH-FREQUENCY CHARACTERISTICS OF ELECTRONIC ELEMENT |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPH11211785(A) |
申请公布日期 |
1999.08.06 |
| 申请号 |
JP19980012217 |
申请日期 |
1998.01.26 |
| 申请人 |
NIPPON TELEGR & TELEPH CORP <NTT> |
发明人 |
SHIMIZU NAOFUMI;ISHIBASHI TADAO |
| 分类号 |
G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
