| 发明名称 | 具有错误校验和校正电路的半导体存储器件 | ||
| 摘要 | 提供一种具有ECC电路的半导体存储器件,其用户区域和ECC区域中的存储单元的检验器－数据检测可以一次进行,ECC代码产生电路产生六位ECC代码,其每位具有32位数据组的15位的六个不同的组合的每个的XOR逻辑,位列的每个用户区域中的地址按照1,4,2,5,3,6,…,b,f的顺序排列。 | ||
| 申请公布号 | CN1223444A | 申请公布日期 | 1999.07.21 |
| 申请号 | CN98124912.4 | 申请日期 | 1998.11.13 |
| 申请人 | 日本电气株式会社 | 发明人 | 蛯原信幸;落合雅实 |
| 分类号 | G11C29/00 | 主分类号 | G11C29/00 |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 穆德骏 |
| 主权项 | 1．一种半导体存储器件，其具有ECC(错误检验和校正)电路和包括用户区域和ECC区域的存储单元阵列，该ECC电路包括：一种ECC代码产生电路，用于产生从要写入用户区域中的数据组写入ECC区域中的ECC代码，该每位ECC代码的逻辑分别具有该数据组的某一奇数位的每个不同组合的XOR逻辑(异或运算)。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||