| 发明名称 |
CIRCUIT FOR DETECTING BOTH CHARACTERISTICS OF NON-FLUCTUATION MEMORY CELL CHARGE GAIN AND CHARGE LOSS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH11177072(A) |
申请公布日期 |
1999.07.02 |
| 申请号 |
JP19980266600 |
申请日期 |
1998.09.21 |
| 申请人 |
AMIC TECHNOL INC |
发明人 |
KOU SUU CHEN;DAVID K Y LIU |
| 分类号 |
H01L21/66;G11C16/34;G11C29/50;H01L21/8247;H01L27/115;(IPC1-7):H01L27/115 |
主分类号 |
H01L21/66 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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