发明名称 CIRCUIT FOR BUILT-IN TEST
摘要
申请公布号 KR100206124(B1) 申请公布日期 1999.07.01
申请号 KR19960045706 申请日期 1996.10.14
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD. 发明人 KIM, HO-RYONG
分类号 G01R33/00;(IPC1-7):G01R33/00 主分类号 G01R33/00
代理机构 代理人
主权项
地址
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