发明名称 |
测量具有显微成象光路的光学仪器曝光时间的方法和装置 |
摘要 |
根据本发明方法,一配置在测量光路(M)上的具有多个分立测量光阑(2,3)的测量光阑板(4)以及一配置在入射光路(E)上位于标线板(7)附近的具有多个分立遮蔽图形(12,13)的遮蔽板(11)同步运行,因而在测量光路(M)上的测量光阑(2或3)经入射光路(E)借助配属的遮蔽图形(12或13)和具有测量光阑(2,3)轮廓的标线板(7),同时在观察光路(B)上的目镜中间象面(19)上显示出。 |
申请公布号 |
CN1043926C |
申请公布日期 |
1999.06.30 |
申请号 |
CN93117848.7 |
申请日期 |
1993.09.18 |
申请人 |
莱卡显微及系统有限公司 |
发明人 |
L·雷马;M·吉尔伯特;F·赫尔曼 |
分类号 |
G01J1/04;G01J1/42;G02B21/00 |
主分类号 |
G01J1/04 |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
董巍;肖掬昌 |
主权项 |
1.用于测量光学仪器的曝光时间的方法,该光学仪器具有一显微镜成象光路、一观察光路、一测量光路、一入射光路和一个棱镜系统(P),其特征在于:一个配置在测量光路(M)上的含有多个分立测量光阑(2,3)的测量光阑板(4)和一个配置在入射光路(E)上位于标线板(7)附近的含有多个分立遮蔽图形(12,13)的遮蔽板(11),测量光阑板(4)被电机(6)和旋转轴(5)可移动地支撑,遮蔽板(11)被电机(15)和旋转轴(14)可移动地支撑,测量光阑板(4)和遮蔽板(11)可同步旋转,通过棱镜系统(P)的多个透射、反射作用,位于测量光路(M)上的测量光阑(2)或(3)经入射光路(E)借助所属的遮蔽图形(12或13)和具有测量光阑(2,3)的轮廓或轮廓部分被反向投射到标线板(7)上,同时显示在观察光路(B)上的目镜中间象面(19)上。 |
地址 |
联邦德国韦茨拉尔 |