发明名称 等离子体处理方法及装置
摘要 一种等离子体处理方法及装置包括,边导入规定的气体边排气,在保持真空室(1)内规定的压力的同时,在通过天线用高频电源(4)向轮辐天线(5),通过电极用高频电源(8)向电极(6)分别供给高频电力,使真空室(1)内产生等离子体,在对电极(6)上的基片(7)进行腐蚀等的等离子体处理时,通过外皮,由电磁波屏蔽的发热体构成的电阻加热的加热器(11)和设置在电介体(9)上的压接式热电偶(10)连接温调器(12),在电阻加热的加热器(11)和轮辐天线(5)之间,设置隔热材料(13),通过带有区域层加热器(22)的内室(16),将真空室内加热到80℃以上。
申请公布号 CN1220772A 申请公布日期 1999.06.23
申请号 CN98800305.8 申请日期 1998.03.16
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 奥村智洋;中山一郎;渡边彰三;原口秀夫
分类号 H01L21/3065 主分类号 H01L21/3065
代理机构 中科专利代理有限责任公司 代理人 黄永奎
主权项 1.一种等离子体处理方法,是边向真空室(1)内提供气体,边由所述真空室内排气,控制所述真空室为规定的压力,同时,由于向天线(5)提供高频电力,通过电介体(9)向所述真空室内辐射电磁波,使所述真空室内产生等离子体,等离子体处理载置在所述真空室内的电极(6)上的基片(7),其特征在于:通过导体外皮(17),在具有由电磁波屏蔽的发热体(18)的电阻加热的加热器(11)上流过电流,由此,将所述电介体加热到80℃以上的等离子体处理方法。
地址 日本大阪府