发明名称 绝缘层上有矽之沟渠接触窗结构
摘要 一种绝缘层上有矽之沟渠接触窗结构,系利用形成沟渠接触窗而填入一导电层,可将基底与导电层以金属层电性耦接,除可简化制程外,更藉此提供较小的元件使用面积,以提高元件的积集度。本发明之结构,首先提供具有一埋入式氧化层之一基底,而埋入式氧化层上覆盖着一矽表层,之后更包括:一导电闸极,形成于基底之上;一介电层,形成于导电层之上;以及一金属插塞,穿透介电层与导电层,但不穿透矽表层,而金属插塞与导电层及矽表层基极电性耦接。
申请公布号 TW362258 申请公布日期 1999.06.21
申请号 TW087104160 申请日期 1998.03.20
申请人 联嘉积体电路股份有限公司 发明人 廖宽仰
分类号 H01L21/76 主分类号 H01L21/76
代理机构 代理人 詹铭文 台北巿罗斯福路二段一○○号七楼之一
主权项 1.一种绝缘层上有矽之沟渠接触窗结构,提供具有一埋入式氧化层之一基底,而埋入式氧化层上覆盖着一矽表层,其包括:一导电层,形成于该基底之上;一介电层,形成于该导电层之上;以及一金属插塞,穿透该介电层与该导电层,但不穿透该矽表层,该金属插塞与该导电层及该矽表层电性耦接;其中,在该矽表层与该金属插塞相连接处具有一掺杂区,该掺杂区电性与该矽表层相同,且掺杂浓度大于该矽表层。2.如申请专利范围第1项所述之结构,其中,该导电层包括一复晶矽层。3.如申请专利范围第1项所述之结构,其中,该复晶矽层掺有杂质。4.如申请专利范围第1项所述之结构,其中,该导电层包括一金属层。5.一种绝缘层上有矽之沟渠接触窗结构,提供具有一埋入式氧化层之一基底,埋入式氧化层上覆盖着一基极,其包括:一闸极,形成于该基底之上;一介电层,形成于该导电层之上;以及一金属插塞,穿透该介电层与该闸极,但不穿透该基极,该金属插塞与该闸极及该基极电性耦接;其中,在该基极与该金属插塞相连接处具有一掺杂区,该掺杂区电性与该基极相同,且掺杂浓度大于该矽表层。6.如申请专利范围第5项所述之结构,其中,该闸极包括一复晶矽层。7.如申请专利范围第5项所述之结构,其中,该复晶矽层掺有杂质。图式简单说明:第一图系显示一种习知技艺BiCMOS元件在绝缘层上有矽结构之布局俯视图。第二图系显示根据本发明较佳实施例之BiCMOS元件在绝缘层上有矽结构之布局俯视图。第三图系显示第二图根据本发明较佳实施例之BiCMOS元件在绝缘层上有矽结构延A-A'切线之剖面图。
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