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发明名称
PATTERN FORMING METHOD FOR CHECKING VIA RESISTANCE
摘要
申请公布号
KR100192578(B1)
申请公布日期
1999.06.15
申请号
KR19950045676
申请日期
1995.11.30
申请人
SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD.
发明人
KIM, MAN-JUN
分类号
H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66
主分类号
H01L21/66
代理机构
代理人
主权项
地址
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