铁电随机存取存储器及测试短寿命单元的方法

摘要

一种铁电随机存取存储器装置在一对铁电电容(CP1/CP2)中以沿一个磁滞回线变化的剩磁的方式存储一个数据位,一个读出放大器(OSA0到OSAm; SA10到SA1m)将在一个位线对(BLT0/TLN0到BLTm/BLTm)上由于剩磁而产生的一个电势差的幅值增大,其中为筛除掉短寿命铁电电容而进行的寿命测试中故意将读出放大器的难以察觉的电压范围增大。

主权项

1．一种铁电随机存取存储器装置，其包括：一组可寻址存储器单元(MC00到MCnm)，其每个均具有一个用于以沿一个磁滞回线可变的剩磁形式存储一个数据位的铁电容性装置(CP1/CP2)；一组位线(BLT0/BLN0到BLTm/BLNm)，其选择性地连到所述一组可寻址存储器单元，并将由于从所述一组可寻址存储器单元中选出的可寻址存储器单元的所述铁电容性装置的所述剩磁而产生的电势差传出或传入；一组读出放大器(OSA0到OSAm；SA10到SA1m)，选择性地连到所述一组位线以增加所述电势差的幅值；及一个数据接口(25/DLT0/DLN0和DLT1/DLN1；DA0/DA1；WB0/WB1)，选择性地连到所述一组位线以产生一个表示在所述可寻址存储器单元中至少存在一个短寿命单元的诊断信号；其特征在于另外包括：一个短寿命单元检测装置(T15/T16/T17/T18；BLTx/BLNx，T30/T31/OST/OSN)，使所述一组读出放大器在所述可寻址存储器单元中的至少一个沿所述一个小磁滞回线改变所述剩磁时产生所述诊断信号。