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发明名称 FRICTION FORCE PROBE MICROSCOPE AND IDENTIFYING METHOD OF ATOMIC SPECIES AND MATERIAL BY USING FRICTION FORCE PROBE MICROSCOPE
摘要
申请公布号 JPH11142105(A) 申请公布日期 1999.05.28
申请号 JP19970306879 申请日期 1997.11.10
申请人 MATSUSHITA ELECTRON CORP 发明人 YAMAMOTO SHINICHI
分类号 G01B7/16;G01B21/30;G01N19/02;G01Q20/04;G01Q60/26;G01Q60/38;(IPC1-7):G01B7/16 主分类号 G01B7/16
代理机构 代理人
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