| 发明名称 | 探针型检测仪,使用这种检测仪的集成电路检测方法以及集成电路 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种集成电路,其上具有许多涂覆有焊料层的引线,这些引线是从集成电路封装的侧面伸出来的,并平行于集成电路的上表面的平面线性延伸,然后向下弯曲,并且每一条所说的引线在其底部线性延伸部分的焊料涂层上,通过接触或类似的方法形成有一个凹部。 | ||
| 申请公布号 | CN1214546A | 申请公布日期 | 1999.04.21 |
| 申请号 | CN98107946.6 | 申请日期 | 1995.03.20 |
| 申请人 | 三菱电机株式会社 | 发明人 | 大野利雄 |
| 分类号 | H01L23/48 | 主分类号 | H01L23/48 |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 范本国 |
| 主权项 | 1．一种集成电路，其上具有许多涂复有焊料层的引线，这些引线是从集成电路封装的侧面伸出来的，并平行于集成电路的上表面的平面线性延伸，然后向下弯曲，并且每一条所说的引线在其底部线性延伸部分的焊料涂层上，通过接触或类似的方法形成有一个凹部。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||