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发明名称 MEHRKOMPONENTENANALYSE VON FT-IR SPEKTREN
摘要
申请公布号 DE69320811(T2) 申请公布日期 1999.04.01
申请号 DE19936020811T 申请日期 1993.06.09
申请人 TEMET INSTRUMENTS OY, HELSINKI, FI 发明人 KAUPPINEN, JYRKI, FIN-00810 HELSINKI, FI;SAARINEN, PEKKA, FIN-8810 HELSINKI, FI
分类号 G01N21/35;(IPC1-7):G01N21/35 主分类号 G01N21/35
代理机构 代理人
主权项
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