| 摘要 |
<p>Eine Vorrichtung zum Testen von elektronischen Bauelementen, mit einer Stimuliereinrichtung, die mit dem Bauelement galvanisch kontaktiert ist und dieses durch elektrische Beaufschlagung zum Aufbau eines Feldes im umgebenden Raum anregt, sowie mit einer Meßeinrichtung, die von dem Bauelement galvanisch getrennt und in dessen Nähe angeordnet ist zur Messung des von diesem erzeugten Feldes, ist dadurch gekennzeichnet, daß die Stimuliereinrichtung zum Anlegen einer Spannung an das Bauelement ausgebildet ist und daß die Meßeinrichtung einen Meßverstärker aufweist, der die elektrische Spannungsdifferenz zwischen zwei Elektroden mißt, die an zwei Punkten in dem vom Bauelement erzeugten elektrischen Feld positioniert sind, und von denen eine erste Elektrode in der Nähe des Bauelementes positioniert ist.</p> |
