发明名称 Memory testing apparatus
摘要
申请公布号 SG63749(A1) 申请公布日期 1999.03.30
申请号 SG19970003447 申请日期 1997.09.18
申请人 ADVANTEST CORPORATION. 发明人 FUJISAKI KENICHI
分类号 G01R31/28;G01R31/3193;G11C29/00;G11C29/44;G11C29/56;(IPC1-7):G06F11/20 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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