发明名称 利用由热差等所致之过饱和的凝结核计数器
摘要 一种凝结核计数器(10),其特征在于:一熵控制机构可调整存在于一饱和器(12)中的一蒸气化流体之熵值,藉此,有助于在蒸气化流体通过一凝结器之前使该蒸气化流体在夹带于样本气体流束中的微粒物质(60)周围产生过饱和。此凝结核计数器包括有一样本气体供应器、适合于让样本气体流束流过其间的导管、一饱和器(12)、一凝结器(14)和一光学检测器(16),其彼此间皆形成流体连通。分支管(24)被设置于导管与饱和器之间,而一温度控制装置(36)亦同。分支管包含有一馈送室和复数条通道,其系被设置成为使得进入馈送室的样本气体流束均匀地分隔成复数条分流(30),使每一分流进入饱和室。温度控制装置可调整进入饱和器的分流与所含有的蒸气化流体之间的温度差值,使其位于一指定范围内。在此型态中,过饱和现象会发生在靠近于样本流进入饱和器的位置处。
申请公布号 TW354828 申请公布日期 1999.03.21
申请号 TW086111362 申请日期 1997.08.08
申请人 梅特万公司 发明人 布赖恩.J.谢安
分类号 G01N15/08 主分类号 G01N15/08
代理机构 代理人 赖经臣 台北巿南京东路三段三四六号白宫企业大楼一一一二室
主权项 1.一种凝结核计数器,其系用来检测夹带于一样本气体流束中的微粒,该计数器包含有:一导管,其适合于让该样本气体流束流过其间;一饱和器,其具有一与该导管成流体连通的入口,该饱和器含有一蒸气化流体;一凝结器,其系与该饱和器成流体连通,降低装置,其系与该样本气体流束形成热接触,用来降低结合于接近该入口的蒸气化流体之熵値,藉以使得凝结形成于该微粒周围;一检测器,其系与该样本气体流束成数据连通;以及一凝结器,其系被设置于该检测器与该饱和器之间。2.如申请专利范围第1项之凝结核计数器,其中,该降低装置包括有一被设置于该导管与该入口之间的流体分配分支管,该分支管可将该样本气体流束均匀地分隔成为复数条分流,使得每一该分流进入该入口。3.如申请专利范围第1项之凝结核计数器,其中,该降低装置包括有一第一加热装置,其系用来维持进入该饱和器的该样本气体流束与该蒸气化流体之间的温度差等。4.如申请专利范围第1项之凝结核计数器,其中,该凝结器具有一气室,并且另外包括有一与该凝结器形成热接触的第二加热装置,用来增加该气室之温度以超过通过于该导管的该样本气体流束之温度。5.如申请专利范围第1项之凝结核计数器,其中,该降低装置包括有一第一装置,用来将该蒸气化流体加热至一第一温度;以及一第二装置,用来将该样本气体流束加热至一低于该第一温度的第二温度;藉着该第一与第二温度间之差値,造成凝结形成在存在于接近该入口的该气体流束中的该微粒物质之上。6.如申请专利范围第1项之凝结核计数器,其中,该蒸气化流体包含有甘油。7.如申请专利范围第3项之凝结核计数器,其中,该温度差等系在60至70℃之范围内。8.一种凝结核计数器,其系用来检测夹带于一样本气体流束中的微粒,该计数器包含有:一导管,其适合于让该样本气体流束流过其间;一饱和器,其具有一与该导管成流体连通的入口,该饱和器含有一蒸气化流体;一凝结器,其系与该饱和器成流体连通;降低装置,其系与该样本气体流束形成热接触,用来过饱和接近于该入口的微粒;一检测器,其系与该样本气体流束成数据连通;以及一凝结器,其系被设置于该检测器与该饱和器之间。9.如申请专利范围第8项之凝结核计数器,其中,该降低装置包括有一被设置于该出口孔与该入口之间的流体分配分支管,该分支管具有一馈送室和复数条自该馈送室延伸的通道,该复数条通道相对于该馈送室而被设置,以便均匀地将该样本气体流束分隔为复数条分流,使每一该分流进入该入口。10.如申请专利范围第9项之凝结核计数器,其中,该降低装置包括有一第一加热装置,其系用来维持进入该饱和器的该样本气体流束与该蒸气化流体之间的温度差等。11.如申请专利范围第10项之凝结核计数器,其中,该凝结器具有一气室,并且另外包括有一与该凝结器形成热接触的第二加热装置,用来增加该气室之温度以超过通过于该导管的该样本气体流束之温度。12.如申请专利范围第11项之凝结核计数器,其中,该降低装置包括有一第一装置,用以将该样本气体流束加热至一第一温度,以及将该蒸气化流体加热至一高于该第一温度的第二温度;藉着该第一与第二温度间之差値,造成凝结形成在存在于接近该入口的该气体流束中的该微粒物质之上。13.如申请专利范围第12项之凝结核计数器,其中,该蒸气化流体为甘油。14.一种测量夹带于一样本气体流束中的微粒物质之方法,包含有下列步骤:将该样本气体流束加热至一第一温度;设置一个含有可蒸气化流体的饱和器;将该可蒸气化流体加热以产生具有一第二温度的蒸气;将该气体流束导入该蒸气之中,藉着该第一与第二温度间之差値以产生一热差等,造成该蒸气凝结在该微粒物质周围以形成复数个液滴;设置一个具有一气室的凝结器;将该空气加热至一第三温度;将该复数个液滴导入该空气中,藉比,每一个通过该气室的该复数个液滴可经由凝结和蒸发程序而获得一预定的直径;以及测量出离开于该凝结器的该复数个液滴之物理数値。15.如申请专利范围第14项之方法,其中,该第三温度大于该第一温度,但小于该第二温度。16.如申请专利范围第15项之方法,其中,该第一温度大于周围环境之温度。17.如申请专利范围第15项之方法,其中,该凝结器气室被加热超过30℃。18.如申请专利范围第14项之方法,其中,该热差等系在60℃至70℃之范围内。图式简单说明:第一图为依照本发明而建构的凝结核计数器之剖面侧视图。第二图为第一图所示之流体分配支管之仰视图。第三图为沿第二图中3-3线取得之流体分配支管之仰视图。第四图为第三图所示之流体分配分支管之端视图。第五图为表示包含在第一图所示之凝结核计数器之饱和器内的受热蒸气与被第二图至第四图所示之流体分配分支管导入于饱和器内的样本气体流束之间的热传导之线图。
地址 美国