发明名称 MASK FOR FOCUSING MEASUREMENT
摘要
申请公布号 KR0172780(B1) 申请公布日期 1999.03.20
申请号 KR19960023641 申请日期 1996.06.25
申请人 HYUNDAI ELECTRONICS IND. CO.,LTD 发明人 PARK, KI-YEUB
分类号 G03F1/38;G03F1/26;G03F1/44;(IPC1-7):G03F1/14;G03F1/00 主分类号 G03F1/38
代理机构 代理人
主权项
地址