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发明名称 Speichertestgerät
摘要
申请公布号 DE19781611(T1) 申请公布日期 1999.03.18
申请号 DE19971081611T 申请日期 1997.12.19
申请人 ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO, JP 发明人 GOISHI, MASARU, MEIWA, GUNMA, JP
分类号 G01R31/28;G01R31/3193;G11C29/00;G11C29/44;G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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