首页
产品
黄页
商标
征信
会员服务
注册
登录
全部
|
企业名
|
法人/股东/高管
|
品牌/产品
|
地址
|
经营范围
发明名称
A STABILIZED PHARMACEUTICAL FORMULATION COMPRISING GROWTH HORMONE AND ASPARAGINE
摘要
申请公布号
EP0618806(B1)
申请公布日期
1999.03.17
申请号
EP19930902088
申请日期
1992.12.16
申请人
NOVO NORDISK A/S
发明人
SORENSEN, HANS
分类号
A61K38/27;A61K9/08;A61K31/195;A61K47/02;A61K47/16;A61K47/18;A61K47/26;A61K47/42;A61P5/02;(IPC1-7):A61K38/27
主分类号
A61K38/27
代理机构
代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
液晶显示装置及其制造方法
化学气相沉积系统
澄清耐冲击性间同立构聚丙烯
模具清洁装置
倒立机
平台式雷射雕刻机
反光附加夜光之材料结构
黏扣带
配置网路装置之方法
具防护凸缘之影像感测器模组及其制造方法
高效能音圈马达
防滑健康袜结构
背光模组瑕疵检测系统之亮度检测装置
抽油烟机结构
晶圆平坦度之评估方法,执行此评估方法之晶圆平坦度评估装置,使用此评估方法之晶圆制造方法,使用此评估方法之晶圆品质保证方法,使用此评估方法之WAFER FLATNESS EVALUATION METHOD, WAFER FLATNESS EVALUATION APPARATUS CARRYING OUT THE EVALUATION METHOD, WAFER MANUFACTURING METHOD USING THE EVALUATION METHOD, WAFER QUALITY ASSURANCE METHOD USING THE EVALUATION METHOD, SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD USING THE EVALUATION METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD USING A WAFER EVALUATED BY THE EVALUATION METHOD WAFER FLATNESS EVALUATION METHOD, WAFER FLATNESS EVALUATION APPARATUS CARRYING OUT THE EVALUATION METHOD, WAFER MANUFACTURING METHOD USING THE EVALUATION METHOD, WAFER QUALITY ASSURANCE METHOD USING THE EVALUATION METHOD, SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD USING THE EVALUATION METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD USING A WAFER EVALUATED BY THE EVALUATION METHOD
半导体制程参数的非入侵量测与分析的方法与设备
发光二极体平板灯
积体电路及程式化电荷储存记忆胞的方法
用于高压放电灯点灯之电路配置及具有此电路配置之照明系统
陶瓷浆液组合物、陶瓷成形物及陶瓷电子元件