发明名称 SEMICONDUCTOR SURFACE EVALUATING METHOD AND DEVICE BY SURFACE PHOTOVOLTAGE
摘要
申请公布号 JPH1174325(A) 申请公布日期 1999.03.16
申请号 JP19970235007 申请日期 1997.08.29
申请人 KOBE STEEL LTD;TOHOKU KOGYO UNIV 发明人 MUNAKATA TADASUKE;TAKAMATSU HIROYUKI
分类号 G01R31/302;G01N27/00;G01N27/60;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 G01R31/302
代理机构 代理人
主权项
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