发明名称 |
SEMICONDUCTOR SURFACE EVALUATING METHOD AND DEVICE BY SURFACE PHOTOVOLTAGE |
摘要 |
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申请公布号 |
JPH1174325(A) |
申请公布日期 |
1999.03.16 |
申请号 |
JP19970235007 |
申请日期 |
1997.08.29 |
申请人 |
KOBE STEEL LTD;TOHOKU KOGYO UNIV |
发明人 |
MUNAKATA TADASUKE;TAKAMATSU HIROYUKI |
分类号 |
G01R31/302;G01N27/00;G01N27/60;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/302 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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