发明名称 VERFAHREN ZUM ERREICHEN KONTROLLIERTER ABLAGERUNGSPROFILE IN SILIZIUMWUFERN
摘要
申请公布号 AT176084(T) 申请公布日期 1999.02.15
申请号 AT19920900331T 申请日期 1991.11.11
申请人 MEMC ELECTRONIC MATERIALS S.P.A. 发明人 FALSTER, ROBERT;FERRERO, GIANCARLO;FISHER, GRAHAM;OLMO, MASSIMILIANO;PAGANI, MARCO
分类号 C30B33/02;H01L21/02;H01L21/26;H01L21/322;H01L21/324;(IPC1-7):H01L21/322 主分类号 C30B33/02
代理机构 代理人
主权项
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