| 摘要 |
<p>La présente invention concerne un procédé et un microscope à force atomique comprenant une pointe de sonde (48) de détection de force conçue pour venir au voisinage immédiat d'une surface d'échantillon (52), un élément de balayage (50) destiné à produire un déplacement relatif entre la pointe de sonde et la surface d'échantillon, un dispositif (62) produisant un champ magnétique destiné à fléchir la pointe de sonde, un dispositif d'entraînement (73) pour ledit dispositif, lequel comprend une source de courant alternatif (66) et une source d'un second courant (74) d'une amplitude contrôlée, et un détecteur (60) destiné à détecter la position de la pointe de sonde. Dans un mode d'utilisation préféré, deux signaux, l'un produit par un courant alternatif et l'autre par un courant fixe mais variable, sont appliqués de manière à provoquer un déplacement de la position temporelle moyenne de la pointe de sonde.</p> |
