| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD THEREFOR |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH1123652(A) |
申请公布日期 |
1999.01.29 |
| 申请号 |
JP19970175475 |
申请日期 |
1997.07.01 |
| 申请人 |
FUJITSU LTD |
发明人 |
HIRAI ATSUHIRO;NANBA KOJI;KIKUCHI TADASHI |
| 分类号 |
G01R31/26;G01N27/00;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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