发明名称 | 改进的冗余电路及其方法 | ||
摘要 | 用于置换存储器阵列不合格元件的方法,包括形成第一冗余电路,它包括形成第一多个地址熔丝。当设置时,构成第一多个地址熔丝以指明不合格元件的一个的地址。还包括形成第一多个地址锁存器,其每个与第一多个地址熔丝的每个相连。还形成第一冗余元件。还有形成第一译码逻辑电路,其与第一多个地址锁存器和冗余元件相连接,以确定在存储器阵列操作期间在第一多个地址熔丝中存储的位模式是否和第一预定值不同,如不同,第一冗余元件置于置换模式。 | ||
申请公布号 | CN1205476A | 申请公布日期 | 1999.01.20 |
申请号 | CN98114810.7 | 申请日期 | 1998.06.12 |
申请人 | 西门子公司 | 发明人 | 克里斯琴·A·伯杰 |
分类号 | G06F11/16;H03K19/177 | 主分类号 | G06F11/16 |
代理机构 | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人 | 杨梧 |
主权项 | 1.一种置换一存储器阵列的不合格元件的方法,包含:形成第一冗余电路,包括,形成第一多个地址熔丝,当设置时,所述构成的第一多个地址熔丝指明所述不合格元件之一的地址;形成第一多个地址锁存器,所述第一多个地址锁存器的每一个与所述第一多个地址熔丝的每一个相连接;形成第一冗余元件;和形成第一译码逻辑电路,所述第一译码逻辑与所述第一多个地址锁存器和所述冗余元件相连接,所述第一译码逻辑电路的构成是为确定在所述存储器阵列的操作期间,在所述第一多个地址熔丝中存储的位模式是否与第一预定值不同,并且如果所述位模式与所述预定值不同,则使所述第一冗余元件置于所述的置换模式,所述置换模式启动所述第一冗余元件以用来在操作期间替换所述不合格元件中的一个元件。 | ||
地址 | 联邦德国慕尼黑 |