发明名称 Method and apparatus for inspecting high-precision patterns
摘要
申请公布号 EP0838679(A3) 申请公布日期 1999.01.20
申请号 EP19970250312 申请日期 1997.10.22
申请人 NEC CORPORATION 发明人 MURAKAMI, SHINGO;YAMANE, TSUYOSHI;OGURA, YUKIO;NAKATANI, KATSUHIKO;AIDA, YOSHIAKI
分类号 G01N21/95;H01L21/66;(IPC1-7):G01N21/88 主分类号 G01N21/95
代理机构 代理人
主权项
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