IC TEST SYSTEM,申请号JP19970142764-传众专利搜索

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发明名称	IC TEST SYSTEM
摘要
申请公布号	JPH10332782(A)	申请公布日期	1998.12.18
申请号	JP19970142764	申请日期	1997.05.30
申请人	ANDO ELECTRIC CO LTD	发明人	SUGIZAKI TAKAYUKI
分类号	G01R31/28;G01R31/3193;(IPC1-7):G01R31/28	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
主权项
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