MICROSCOPIO ELECTRONICO CON ESPECTROSCOPIA RAMAN.

摘要

MICROSCOPIO ELECTRONICO PROPORCIONADO EN LA DIRECCION DEL EJE LONGITUDINAL, CON AL MENOS UN SISTEMA DE GENERACION DE HAZ DE ELECTONES, UN CONDENSADOR Y SISTEMA DE OBJETIVO DE LENTE, UNA CAMARA DE MUESTRA CON UN SOPORTE DE MUESTRA, UN SISTEMA DE PROYECCION DE LENTE CON UNA PANTALLA REPRODUCTORA PARA EL FIN DEL MICROSCOPIO ELECTRONICO DE TRANSMISION (MET) Y/O UN DETECTOR ELECTRONICO PARA EL FIN DEL MICROSCOPIO ELECTRONICO DE ESCANEO (MEE). EL MICROSCOPIO SE USA EN COMBINACION CON UN ESPECTROMETRO DE RAMAN POSICIONADO EXTERNAMENTE Y UNA FUENTE DE LUZ ASOCIADA PAA INYECCION Y EXTRACCION, VIA UNA VENTANA EN LA PARED DEL MICROSCOPIO, UN HAZ DE LUZ ES DIRECCIONADO A LA RADIACION DE RAMAN DE MUESTRA Y DE MUESTRA AFIN, RESPECTIVAMENTE. EN LA CAMARA DE MUESTRA, UN HAZ DE LUZ Y UN SISTEMA DE GUIA DE RADIACION DE RAMAN SE PROPORCIONA CON UNA GUIA OPTICA PARA GUIAR EL HAZ DE LUZ YLA RADIACION RAMAN DESDE LA MUESTRA. EL SISTEMA DE GUIA Y EL SOPORTE DE MUESTRA ESTAN DESPLAZADOS EL UNO DEL OTRO POR LA ALINEACION MUTUA DE LA MUESTRA Y EL EJE OPTICO DEL ESPECTROMETRO RAMAN. EL SISTEMA GUIAPUEDE COMPRENDER UN SUBSISTEMA DE LENTE Y OBJETIVO POSICIONADO AL EXTREMO DE LA GUIA OPTICA. EL SISTEMA GUIA PUEDE ESTAR EN UNA POSICION FIJADA EN LA CAMARA DE MUESTRA PROXIMA AL EJE LONGITUDINAL DEL MICROSCOPIO, UN MECANISMO DE DESPLAZAMIENTO DE MUESTRA DESPLAZA EL SOPORTE DE MUESTRA DESDE UNA POSICION EN EL EJE LONGITUDINAL DEL MICROSCOPIO A UNA POSICION ALINEADA CON EL EJE OPTICO EN DICHO SISTEMA DE GUIA Y VICEVERSA. IGUALMENTE, LA GUIA OPTICA PUEDE SER DESPLAZADA A UNA POSICION EN LA CUAL EL EJE OPTICO QUE SALE DESDE EL EXTREMO DE LA GUIA COINCIDA CON EL EJE LONGITUDINAL DEL MICROSCOPIO.