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发明名称 MEASURING DEVICE OF THICKNESS AND MEASURING METHOD USING IT
摘要
申请公布号 KR0151993(B1) 申请公布日期 1998.12.01
申请号 KR19950027205 申请日期 1995.08.29
申请人 POSCO;RIST 发明人 LEE, EUN-SUK;PARK, WAN-HEE;PARK, JOON-HO;JUNG, SEUNG-BAE
分类号 G01B21/02;(IPC1-7):G01B21/02 主分类号 G01B21/02
代理机构 代理人
主权项
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