| 发明名称 |
TEST OF SECONDARY BATTERY TEMPERATURE |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPH10304576(A) |
申请公布日期 |
1998.11.13 |
| 申请号 |
JP19970104112 |
申请日期 |
1997.04.22 |
| 申请人 |
SONY CORP |
发明人 |
HONMA TAKUMI;SATO KENJI;KURODA KIYOTAKA;SATO KAZUHIKO |
| 分类号 |
G01R31/36;G01J5/48;H01M10/48;H02J7/00;(IPC1-7):H02J7/00 |
主分类号 |
G01R31/36 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
