发明名称 웨이퍼의 파티클 검사기
摘要 <p>본 고안은 웨이퍼의 상면 또는 뒷면에 발생된 파티클을 검사하는 웨이퍼의 파티클 검사기를 제공하는 것을 목적으로 한다. 본 고안은, 웨이퍼가 안치되는 광 집중 테이블; 상기 광 집중 테이블의 측단에 구비되는 웨이퍼 스케닝 수단; 상기 스케닝된 웨이퍼 상태를 표시하는 디스플레이 수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.</p>
申请公布号 KR19980050054(U) 申请公布日期 1998.10.07
申请号 KR19960063225U 申请日期 1996.12.30
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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